Rayon Critique littéraire
Fiche technique
Format : Broché
Nb de pages : 146 pages
Poids : 200 g
Dimensions : 14cm X 22cm
Date de parution : 31/12/2099
ISBN : 978-2-271-09252-6
EAN : 9782271092526
Traces
entre mémoire et oubli
entretiens avec Almuth Grésillon et Jean-Louis Lebrave
Chez
CNRS Editions
A paraître le 31/12/2099
Broché
146 pages
Quatrième de couverture
« Je suis impressionné par la rapidité avec laquelle histoire et mémoire s'abolissent. Il faudrait faire un film qui montre les passants vus de dos : derrière eux tout disparaît comme l'ombre de Peter Schlemihl. Le passé s'évanouit et seul existe l'avenir vers lequel ils marchent. »
Louis Hay
